意法半导体申请混合内建系统测试开关电路装置专利，用于嵌入式存储器测试_科普教育

意法半导体申请混合内建系统测试开关电路装置专利，用于嵌入式存储器测试

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2026-03-10 16:59:35

国家知识产权局信息显示，意法半导体国际公司申请一项名为“用于嵌入式存储器测试的混合内建系统测试开关电路装置”的专利，公开号CN121636265A，申请日期为2025年8月。

专利摘要显示，本公开涉及用于嵌入式存储器测试的混合内建系统测试开关电路装置。各种实施例涉及被配置为在嵌入式存储器上执行内建自测试操作的示例性片上系统集成电路。示例片上系统集成电路包括动态BIST开关电路装置和嵌入式存储器。动态BIST开关电路装置被配置为基于测试状态生成动态BIST输出。嵌入式存储器被配置为接收动态BIST输出。嵌入式存储器包括固定BIST开关电路装置，被配置为基于测试状态生成固定BIST输出。其中固定BIST开关电路装置在嵌入式存储器内部，并且动态BIST开关电路装置在嵌入式存储器外部。

声明：市场有风险，投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成，仅供参考，不构成个人投资建议。

来源：市场资讯

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