立德电控申请碳化硅MOS模块开关损耗优化方法及系统专利,实现开关损耗最小化
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2026-08-15 11:44:06

国家知识产权局信息显示,深圳市立德电控科技有限公司申请一项名为“一种碳化硅MOS模块开关损耗优化方法及系统”的专利,公开号CN122577577A,申请日期为2026年5月。

专利摘要显示,本发明涉及开关损耗优化技术领域,尤其涉及一种碳化硅MOS模块开关损耗优化方法及系统。所述方法包括以下步骤:采集碳化硅MOS模块的开关瞬态损耗数据与栅极振荡特征数据并进行特征融合,生成开关瞬态行为特征集;基于开关瞬态行为特征集分析对不同开关阶段损耗的影响权重,生成驱动参数与损耗的映射关系图谱;构建多目标优化模型并进行求解;根据多目标优化模型的求解结果,实时自适应地调节并输出栅极驱动参数优化指令;将栅极驱动参数优化指令施加于驱动电路,在满足预设电磁干扰阈值的前提下,实现开关损耗的最小化,并同步更新开关瞬态行为特征集,形成闭环优化。本发明能够提升最优参数组合的求解效率,并实现开关损耗最小化。

天眼查资料显示,深圳市立德电控科技有限公司,成立于2011年,位于深圳市,是一家以从事机动车、电子产品和日用产品修理业为主的企业。企业注册资本650万人民币。通过天眼查大数据分析,深圳市立德电控科技有限公司共对外投资了3家企业,财产线索方面有商标信息1条,专利信息25条,此外企业还拥有行政许可5个。

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来源:市场资讯

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